中國電子科技集團第十三研究所試驗中心，國家半導體器件質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心和信息產(chǎn)業(yè)部半導體器件產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心行政上隸屬于中國電子科技集團公司第十三研究所，業(yè)務上直屬國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局和信息產(chǎn)業(yè)部，由國家認證認可監(jiān)督管理委員會管理。中心籌建于1986年，為國家首批規(guī)劃的100個國家級中心之一，1990年通過原國家技術監(jiān)督局審查認可和國家計量認證，并授權(quán)開展工作，成為對半導體器件產(chǎn)品進行檢測工作的第三方中立機構(gòu)。2000年又通過了由中國實驗室國家認可委員會進行的“三合一”評審，即國家半導體器件質(zhì)量監(jiān)督檢驗中心復查評審、計量認證/審查認可評審和獨立實驗室的認可評審，得到國際實驗室認可合作組織（ILAC）和亞太實驗室認可合作組織（APLAC）的多邊互認，得到美國、日本、英國、德國等28個國家和地區(qū)的36個實驗室認可機構(gòu)的互認，并且還在不斷擴大。

中心曾多次承擔以高頻、超高頻低噪聲晶體管和微波晶體管為主的半導體分立器件的生產(chǎn)許可證確認試驗，仲裁試驗，創(chuàng)優(yōu)試驗和鑒定試驗。同時還是全國半導體標準委員會主任單位，IEC/TC 47的歸口單位，國際標準化工作網(wǎng)秘書單位，曾多次承擔或參與國家標準和專業(yè)標準的制訂、修訂及標準的驗證工作。

中心檢測工作面積2420平方米，其中中央空調(diào)面積2150平方米。中心具有先進的檢測儀器和失效分析設備610臺套。中心可靠性試驗設備基本上以進口為主，可按照GB、GJB、SJ、IEC、MIL標準對半導體器件、集成電路、微波組件、小整機、微型計算機、印制電路板等進行測試、篩選、DPA試驗、老化試驗以及鑒定檢驗和質(zhì)量一致性檢驗。

中心注重技術研究與發(fā)展，在半導體器件可靠性試驗和檢測領域取得多項研究成果。中心現(xiàn)有工作人員40人，有一支以教授級高級工程師為學術帶頭人的技術隊伍，可為用戶提供科學準確的檢測數(shù)據(jù)和公正的技術服務，具有公正性、規(guī)范性、有效性和權(quán)威性。